VAIO Z レビュー ｜フルカーボンボディのフラグシップ モバイル VAIO Zの実機を使って魅力を確認！

VAIO Z レビュー 「VAIO Z の品質テストを確認」

最高127cmの落下試験

天面・裏面の計2面の落下試験について、アメリカ国防総省制定MIL規格（MIL-STD-810H Logistic Transit Drop Test）を超える、落下高さ127cmの衝撃から本体を守る堅牢ボディを実現したVAIO Z。

 

VAIOを安心してお使いいただくために、徹底した品質試験を実施。

VAIO独自の、さまざまな利用シーンを想定した数十項目におよぶ品質試験を実施しています。さらにアメリカ国防総省制定MIL規格（MIL-STD-810H）*に準拠した品質試験もクリアし、そのタフさを証明。

ただ試験をしましたのではなく、「現場」で起こりうるあらゆるトラブルを想定したテストで品質を確認し、テストで弱点を発見、改良してきているとのことです。

現場で強いのもVAIOの魅力！

 

MIL規格準拠 落下衝撃テスト

試験条件：天地・前後・左右の6面：床上90cmから鉄板に落下。角や辺の20方向：床上76cmから鉄板に落下。

 

MIL規格準拠 高温高湿環境下の動作テスト

試験条件：温度31℃～41℃、湿度59%～88%の環境で15日間の連続動作。

 

MIL規格準拠 高温高湿環境下の保管テスト

試験条件：温度31℃～71℃、湿度14%～80%の環境で15日間保管。

 

MIL規格準拠 繰り返し温度衝撃テスト

試験条件：-21度⇔63度の急激な熱変化を12回実施。

 

MIL規格準拠 低圧環境下での動作・保管テスト

試験条件：動作：高度4,572m相当での連続動作。保管：高度12,192m相当での保管。

 

MIL規格準拠 輸送振動テスト

試験条件：車両輸送1609kmで想定される3方向への振動を、各60分間実施。

 

紹介したVAIO Z の品質テストは一部でモバイルノート向け品質試験や全機種共通試験は、あらゆる利用シーンを想定した試験の種類は数十項目、それぞれに厳しい検査基準を設定。

品質試験は、無破損・無事故やPCのデータを保証するものではありませんが、長く安心して使えるように、VAIOは高い品質を担保しています。

皆様のVAIOご購入検討の際のご参考になれば幸いです。

 

 

 

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