VAIO SX14 レビュー ｜2020年秋冬新モデルの実機を使って魅力を確認！

VAIO SX14 レビュー 「VAIO SX14 の品質テストを確認」

全機種共通品質試験。

VAIOを安心してお使いいただくために、すべての機種で徹底した品質試験を実施。

ただ試験をしましたのではなく、「現場」で起こりうるあらゆるトラブルを想定したテストで品質を確認し、テストで弱点を発見、改良してきているとのことです。

現場で強いのもVAIOの魅力！さすが「メイド・イン・ジャパン」。

 

埃試験

埃を吸い込んでも不具合を起こさない安全性を追求。

埃試験の目的は、埃の詰まりにくい構造を追求、確認することです。あらゆる環境で使われるモバイルPCにとって、パフォーマンスを低下させる大きな原因の一つが埃です。埃が挟まるとファンの吸気が弱まり、内部に熱がこもることで本来の働きを妨げてしまいます。そこで、埃を吸い込んでファンが不具合を発生することがないように、独自の試験機を使って開発段階から検討を施しています。試験で使う埃も専用につくったものです。その埃を人工的に浮遊させた空間にVAIOを放置して、取り出した後で安全に動作するかを確認。さらに、VAIO内部のどのような場所に埃が溜まりやすいかを調べ、そもそも埃を吸い込みにくい構造を追求しています。

※映像はVAIO Zですが、この試験は全機種にて実施されています。

 

落下試験

落下の衝撃に耐えうる堅牢性を追求。

持ち運びの際に誤って机の上で落としただけでも、PC本体には大きな衝撃が加わります。落下の衝撃から基板やハードディスクなどのデバイスを守ることができれば、大切なデータを失うリスクを軽減できます。
底面からまっすぐに落下させる「落下試験」は、ノートPCの本体にかかる衝撃が最も大きく、過酷な試験。VAIOでは、落とした直後に電源をオンにしても正常に動作することを確認し、実使用に耐えうる高い品質を確保しています。

 

衝撃試験

大きな衝撃から本体内部を守るための堅牢性を追求。

ぶつけたり落としたりすると、VAIOに大きな衝撃が加わります。
衝撃試験によって加えた大きな衝撃は、本体内部にある基板などに直接影響を及ぼすため、壊れやすい部品や、またその部品がどのように壊れるのかなどの原因を正確に知ることができます。この結果を開発チームが分析することで、本体内部の部品を守る堅牢性を高めています。

 

液晶加圧試験

手・ひじ・鞄などで強く押しても液晶が壊れにくい構造を追求。

VAIOのモバイルノート専用試験では、さまざまなタイプの加圧試験を実施しています。その中でも、液晶加圧試験の目的は、液晶画面に大きな力が直接加えられた場合でも、割れにくい液晶ディスプレイを実現することです。モバイルノートの場合、喫茶店や電車の座席など人との距離が近い場所で、すれ違いざまに液晶ディスプレイに手や鞄がぶつかるようなことも起こります。また、液晶ディスプレイを直につかんで持ち上げるユーザーも少なくありません。このような場合は指で液晶画面を強く押すことになります。液晶ディスプレイはVAIOを構成する部品の中でも重要な部品であり、破損してしまった場合、PC自体が使えなくなる可能性があります。そこで液晶加圧試験では、加圧試験機を使って液晶画面の1点を直接加圧するという試験を実施しています。液晶画面のさまざまな場所を大きな力で押すことで、割れにくい液晶ディスプレイを追求しています。また、この試験では天板側を加圧するメニューも実施しています。両面から加圧することで、さまざまなケースに対応できるよう堅牢性を追求しています。

※映像はVAIO Zですが、この試験は全機種にて実施されています。

 

輻射試験

VAIOから出る電波を測定し、人体や他の機器への安全性を追求。

電気製品から放出される電波が多いと、人体や他の機器の動作に影響がでるため、各国で基準値が設けられています。VAIOでは、壁に電波吸収体と呼ばれる、電波を吸収し反射させない特別な素材を使用した部屋で試験を実施。正確な電波の強さを測定し、基準値をクリアする製品であることを確認しています。
また、VAIOに内蔵されている無線LANなどのアンテナの受信感度を測定する試験も実施。ターンテーブルの上にVAIOを設置して360度回転させながら、全方向に対しての受信感度測定を行います。
このような試験を通して、環境への影響を抑えながら、無線機器の感度を向上させる追求を行っています。

 

静電気試験

静電気による衝撃から動作中のVAIOを守る安定性を追求。

静電気はPCの大敵です。静電気試験は、静電気発生装置を使って、動作中のVAIOに静電気を浴びせ、誤動作や故障しないかを検証する試験です。静電気は一年中発生するものですが、特に冬などの乾燥した季節は、人間が痛みを感じるほどの、かなり大きな電流が流れます。そこでVAIOでは、静電気を浴びた場合でも影響を受けず、安定した動作を保てるように、さまざまな設計上の対策を施しています。
静電気試験では、VAIOを動作状態にしながら、液晶ディスプレイの表面や、本体の底面、キーボードやボタンの隙間などのユーザーが手に触れる部分に静電気を浴びせます。日常生活の中で発生する以上の静電気を放電する過酷な試験を実施することで、特に大きな電流に弱い箇所（基板に搭載されたチップセットや、USBなどの入出力端子など）への影響を検証。このような静電気試験を通じて、VAIOの安定性をさらに高めています。

 

開閉試験

液晶ディスプレイの連続開閉で、数年間の酷使に耐えうるヒンジを追求。

使用する度に開けたり閉めたりするノートPCの液晶ディスプレイ。膨大な回数におよぶ開閉を支えるのはヒンジです。VAIOでは、数年間の使用で想定される回数分の開閉試験を行うことで、堅牢なヒンジを実現しています。
ヒンジにはディスプレイを制御する配線が通っているため、開閉によって断線が起きないかをチェックするために、開閉試験はパソコンを動作状態にして行っています。

 

摩耗試験

摩擦による底部の劣化を防ぐ耐久性を追求。

摩耗試験の目的は、鞄への出し入れや机の上で擦るなどの日常使用で、フットの破損や摩耗が起きないようにすることです。試験は、3kgのおもりを載せたVAIOをデスクマットの上に置いて前後左右に負荷をかけながら引きずり、摩耗や劣化の無いことを確認。何年も安定して使っていただける高い耐久性のフットを追求しています。

 

コネクタ強度試験

コネクタ部分の強度を追求。

コネクタ強度試験の目的は、PCを持ち上げるときなど、接続したままのケーブルやUSBデバイスをぶつけたり手で押してしまったりしてコネクタや基板が壊れないか、耐久性を確認することです。引っぱり・圧縮試験機を使い、I/OポートにUSBデバイスなどを挿入した状態で加圧します。1つのコネクタについて5方向で行います。抜けないように強固に保持するだけが最善ではなく、必要に応じてコネクタがあえて抜けるような構造も検討し、VAIO本体や内部を傷つけないための強度を第一に追求しています。

 

あらゆる利用シーンを想定した試験の種類は数十項目、それぞれに厳しい検査基準を設定。

品質試験は、無破損・無事故やPCのデータを保証するものではありませんが、長く安心して使えるように、VAIOは高い品質を担保しています。

 

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